WJ-100C型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。并且我单位是微波反射法国家标准起草单位之一。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于硅块、1mm厚度以下硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。
寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。可配用工控机：LMCS-1是我公司***新研发的数据采集测量显示系统，微计算机系统，触摸屏，配合我公司生产的高频和微波少子寿命仪使用，操作更简单、快速，无需手动调节波形，直接点击“开始采集”，等待几秒钟即可显示***大、***小、平均寿命值和测量波形，整个测量过程完全自动化。
