少子寿命测试仪(WCT-120)
少子寿命测试仪(WCT-120)
详细信息 测量原理:QSSPC(准稳态光电导); 少子寿命测量范围:100 ns-10 ms;测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析;电阻率测量范围:3–600 (undoped) Ohms/sq.;注入范围:1013-1016cm-3;感测器范围:直径40-mm;测量样品规格:标准直径: 40–210 mm (或更小尺寸);硅片厚度范围:10–2000 μm;外界环境温度:20°C–25°C;功率要求:测试仪: 40 W , 电脑控制器:200W ,光源:60W;通用电源电压:100–240 VAC 50/60 Hz; |
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