少子寿命测试仪(WCT-120)

价格：电议

测量原理：QSSPC（准稳态光电导）； 少子寿命测量范围：100 ns-10 ms；测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；电阻率测量范围：3–600 (undoped) Ohms/sq.；注入范围：10^{13-1016cm-3；感测器范围：直径40-mm；测量样品规格：标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；硅片厚度范围：10–2000  μm；外界环境温度：20°C–25°C；功率要求：测试仪： 40 W ，  电脑控制器：200W ，光源：60W；通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz；}