我们推荐WT-2010D或WT-2000PVN进行少子寿命扫描从而准确判断硅块的头尾位置：
WT-2010D，***大硅块测试尺寸为：500x210x210mm
WT-2000PVN，***大硅块测试尺寸为：270x156x156mm
我们推荐IRB-50或IRB-55红外探伤仪找出硅块中的空洞、杂质及隐裂等
IRB-50，***大硅块测试尺寸为：210x210x400mm
IRB-55，***大硅块测试尺寸为：210x210x450mm
同时IRB-55可以选配硅锭尺寸、崩边、电阻率扫描、自动3D成像、激光定位标识缺陷位置、硅锭称重等功能
回炉料、头尾料及硅块分选：对于这部分的分选，一般检测体电阻率、PN型号等指标，我们推荐：
RT-1000体电阻率测试仪
由于晶界的问题，传统的四探针对于多晶电阻率的测试并不理想
PN-100PN型号测试仪
