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[新品] 便携式EL检测仪(HN-M2400)图1

[新品] 便携式EL检测仪(HN-M2400)

2022-11-28 14:118560询价
价格:电议

便携式EL检测仪HN-M2400厂家直销

检测对象:

单组件检测 支架上组件测试 室内组件测试

室外组件测试 灯光下组件测试 白天组件测试

晶硅组件测试 薄膜组件测试 CIGS组件测试

 

弱电流测试:

高电流测试 6~10A   高电流隐裂缺陷测试

低电流测试 0.1~5A  弱电流衰减测试(可进行0.1A检测成像)

 

有效测试面积 1200×2100mm

分辨率2400万像素

灵敏度可检测出裂纹宽度小于0.2μm

测试时间1s—60s自由设定

测试方式M4对接插头,方便快捷

电源参数 单相220V 10A ***大加载电压100V,***大加载电流 10A

配置 测试成像模块(含镜头)、平板电脑、专业软件

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