[促销] 离线组件el检测仪(ZS-M)

u 适用类型

单晶硅

多晶硅

铜铟镓硒CIGS

砷化镓

u 应用范围

组件生产中的抽样EL检测——半自动

组件生产中的过程EL检测——自动

电池/组件实验室中的EL检测——实验室定制

u 主要参数

像素：1600万/2400万像素

***大测试范围：2000mm*1000mm

测试节拍：30s

进料模式：短边/长边/正面向上/正面向下

上电模式：手动/自动

检测缺陷：隐裂、材料缺陷、碎片、断栅、虚焊、低效率、电流等级混档等