[新品] 电阻率/方阻标准测量装置(KDX系列)

电阻率或方阻测量精度达到或接近国内外电阻率/方阻标准计量装置。

用途：可用于硅片或锗片电阻率的检定、校验，是电阻率/方阻高精度测量仪器。

适用范围：半导体材料质量检验中心、集成电路研发单位、企业中心检验室、省级计量院。

电阻率/方阻标准测量装置与国家计量检定规程规定的Ⅰ级四探针电阻率/方阻测试仪性能对比：

注：以上性能参数随样品电阻率及电阻率均匀性的不同会有差异。电气测量准确度是用模拟电路法测定；电阻率测量准确度是与标准样片中心点电阻率检定值相比较。

价格：根据所需测量精度及配置要求商议。