仪器介绍
PL Imaging system（光致发光检测系统）是一种全新的应用于太阳能电池缺陷检测的手段，以往的EL Imaging（电致发光）只能用于检测电池片及模组的缺陷检测，而PL Imaging则延伸到了Wafer 的缺陷检测，从而在前一个工序，对产品的质量监控有了一个更有力的保障。
此款产品广泛应用于太阳能电池研究及应用的企业及高校研究所。
系统组成：
-K301VIS/IR Imaging 装置
-激光及激光power
-光致发光光学系统
-样品JIG（156*156mm)
-温度控制模块
主要特点
-利用电致/光致发光手段同时检测wafer，电池片的各种缺陷。
-不仅适用于单晶，而且也适用于多晶硅及电池片的检测
-测试时间短，精度高
-可以检测到不同于电致发光检测到的缺陷
