[新品] TOF载流子迁移率测试仪(分光/BUNKOUKEIKI)

日本分光TOF载流子迁移率测试仪

描述 
TOF载流子迁移率测试仪CMM-250是测量薄膜电子和空穴的迁移率的有效评价系统，主要用于EL元件和太阳能电池等测试。

我们TOF载流子迁移率测试仪有防噪声系统和独特的信号处理，明显降低了噪声，响应速度快，如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。可更换不同的模具（作为一个选项）模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600P秒荧光.

我们的TOF载流子迁移率测试仪除了TOF法测测量，也可选FET方法测量。

特点

1、在纳米秒的时间分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移动

  （这可能改变取决于样品的厚度）。

2、有简单操作和探针样品室

3、新设计的光学系统和数据处理，能够获得高信噪比的资料

规格

光源：氮激发光模激光器

氮激光脉冲宽度：600psec

氮激光输出：250KW＠10Hz

输出波长：337.1nm

模具的激光脉冲宽度：400psec(在480nm)

分辨率：测量时间小于10纳秒

测量流动范围：10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒

(流动性不能在这个范围内测量)

偏置电压：0～±500V

负载电阻：50Ω～100KΩ 5steps

360～720nm（模具可选）

轴的时间分辨率：8位（平均11位）

同步：光电二极管激励光监测系统

个人电脑

激光控制：激光开/关

数据采集：次把握~ 256***

数据分析：数据显示并保存

Y和X轴对数转换

迁移时间和迁移率的计算