详细说明：
***高精度太阳能电池专用椭偏仪！荣获the award of Best of Boston and Best of Braintree for Optical Instruments and Apparatus!
可以精确测量折射指数、消光系数（n&K)，膜厚等，广泛适用于光伏、半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。***客户包括USArmyResearchLab，NASA，NIST，UCBerkeley，MIT，Harvard，Honeywell和SharpMicroelectronics等；
根据客户需求，可提供不同型号：
变角度单波长椭偏仪（632.8nm）；
变角度多波长椭偏仪（532,632.8,1064nm,…）；
变角度光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；
全自动光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；
红外光谱椭偏仪等；
技术参数：
太阳能电池测试专用椭偏仪！
标准波长：632.8nm；
可选波长范围：543nm,594nm,612nm,633nmto1150nm，或者红外波段0.83,1.31and1.52mm；
可调角度步进：5°，精度0.01°；
测量及数据分析：1~2.0sec；
透明薄膜厚度测量范围：0-6000nm；
吸光性薄膜厚度测量范围：0-6000nm；
角度调整范围：30-90°；
角度调整步进：5°±0.01°；
折射率测量精度：0.0001；
薄膜测量精度：±0.001nmfor10nmSiO2onsilicon；
长期稳定性：±0.01°inD；
样品台可放置试样尺寸：直径150mmdiameter(option)；
主要特点：
高精密、高精度测量；
快速旋转分析仪；
快速激光对准附件；
自动聚焦补偿功能；
高稳定性和重复性：角度测量Betterthan0.01°
快速测量模式：Lessthan1sec；
折射率和薄膜厚度测量：upto9layers；
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