SOC720SW
短波红外成像光谱仪(900nm —1700 nm)
SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器,光谱范围为900nm~1700nm。
SOC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 线列 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里,获得的是***高质量数据。
系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。
数据以开放的BIL二进制格式保存,可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。
可选的SOC MIDIS™处理器以***优的电脑速度快速执行光谱处理,克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。
MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分,使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。
配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统,SOC-720SW通过高速Camera-link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。
SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据,可以很容易的用第三方分析软件打开,如ENVI软件。无须数据格式转换。
技术参数
光谱范围 | 900-1700 nm | 光谱分辨率 | 6.25nm |
光谱通道 | 128 | 光谱失真 | <1.5 microns (smile) |
数字光圈 | F/2.4 | TFOV/IFOV (35MM) | 10°/0.015625° |
分辨率(像素) | 640x640 (nominal) | LINE RATE | 30Spatial Lines/Second |
CUBE RATE | ~20 Seconds/Cube | 数字分辨率 | 14-bit |
扫描 | 内置 | 供电 | AC/12DV |