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企业视频展播,请点击播放视频作者:苏州振鑫焱光伏科技有限公司
测试流程制定
6)再次同步测量环境中太阳辐照度、组件温度及环境气温,确保在IV特性曲线测量期间,辐照度和温度并未发生突变;
7)根据测量数据,计算IV特性曲线上大功率点,填充系数等特征参数,将所有数据打包,存储于SD卡内,本次IV特性曲线扫描结束。
当1组数据测量完成,平台可根据用户设定,控制光伏组件工作于开路、短路或大功率等状态,直到下1次测量开始,可检测光伏组件长期处于特定状态工作性能。
为避免环境辐照度或温度变化对所测IV特性曲线的影响,使所测曲线更加光滑,能否快速的扫描IV特性曲线至关重要。在上述测量流程中,AD转换器对光伏组件IV特性曲线上每个点同步测量时间约80μs,测量一组IV特性曲线数据需用时约22ms,一般而言,该测量时间内几乎不会出现环境辐照度或温度突变的状况。
在所测数据存入SD卡之后,DSP同时将测量数据封装为UDP包,通过以太网模块,经由测试平台路由器,发送至上位机,上位机在接收到每个UDP包后,都给予接收应答。基于VB.NET编程技术,设计了上位机监控程序,它与DSP通信,并将数据存储于SQLServer数据库内,便于用户对组件户外长期工作性能分析和评估。
由于单个MOSFET可耗散的功率有限,因此选用了8路MOSFET并联的结构,对光伏组件的输出电流分流,并将8个MOSFET均匀固定在散热片上,避个MOSFET因功率过大而烧毁。对各个MOSFET分别采用上述的子控制电路,使得各MOSFET 工作状态大致相同,减小不同MOSFET工作温度差。后将8路差分放大的电流信号通过加法电路叠加成总电流信号,采用外围反馈电路使总电流信号与DAC模块给定的控制信号比较,同时将输出信号接入各MOSFET控制电路中,形成外围反馈控制。
硅片的定义
硅片是制作晶体管和集成电路的原料。一般是单晶硅的切片。硅片,是制作集成电路的重要材料,通过对硅片进行光刻、离子注入等手段,可以制成各种半导体器件。用硅片制成的芯片有着惊人的运算能力。科学技术的发展不断推动着半导体的发展。自动化和计算机等技术发展,使硅片(集成电路)这种高技术产品的造价已降到十分低廉的程度。
硅片的规格
硅片规格有多种分类方法,可以按照硅片直径、单晶生长方法、掺杂类型等参量和用途来划分种类。